От партнеров


Заказать работу


От партнеров


Счетчики

На данном сайте собрана коллекция ссылкок на документы: аналитические статьи, рефераты, книги, ГОСТЫ, авторефераты диссертаций, статистичесткие данные, маркетинговые исследования, бизнес-планы...

Статистика наиболее популярных поисковых запросов ...
РазделНаучные статьи и авторефераты диссертаций по электронике и ЭВМ
Короткое описаниеОптимізація послідовностей тест-векторів в процесі тестового комбінованого діагностування цифрових мікропроцесорних пристроїв
Подробное описаниеРасширение файла: zip
Размер документа: 40.9 кб.
Описание:
Добавлено2008-10-01 12:23:45

Смотрите также:
  • Метод і засоби тестового діагностування цифрових та мікропроцесорних пристроїв з компонентами, побудованими за КМДН-технологією

  • Засоби тестового діагностування цифрових пристроїв на базі штучних нейронних мереж

  • Багатоаспектний метод та алгоритми генерації тестів комбінованого діагностування мікропроцесорних пристроїв

  • Метод комбінованого поетапного діагностування цифрових і мікропроцесорних пристроїв системи модернізації автоматичних телефонних станцій

  • Експертні системи як засіб підвищення ефективності діагностування цифрових та мікропроцесорних пристроїв

  • Удосконалений метод діагностування цифрових пристроїв з використанням параметрів енергодинамічного процесу при відновленні їх працездатності у військових ремонтних органах

  • Розробка методів і засобів тестування цифрових пристроїв в системах покомпонентного діагностування

  • Методи та алгоритми покомпонентного діагностування цифрових пристроїв, що базуються на реконфігурації їх структури

  • Методи і засоби підвищення ефективності покомпонентного діагностування цифрових пристроїв

© 2007-2020